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梅特勒XS3DU分析天平產品介紹：
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能，完全滿足基礎稱量應用：在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中最佳的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。
梅特勒XS3DU分析天平技術參數：
| 極限值 | XS3DU 雙量程 |
| 最大稱量值 | 3.1 g |
| 可讀性 | 0.01 mg |
| 最大稱量值 | 0.8 g |
| 可讀性 | 0.001 mg |
| 重復性(sd) - 加載處 | 0.006 mg |
| - 低加載（加載處） | 0.005 mg (0.2 g) |
| 重復性(sd) - 加載處 | 0.001 mg |
| - 低加載（加載處） | 0.0008 mg (0.2 g) |
| 線性誤差 | 0.004 mg |
| 典型值 4) | |
| 典型重復性（sd） | 0.0005 mg +1.2 x (10 –7 )•R_gr |
| 典型微分非線性（sd） | √2x(10 -12 )g·R_nt |
| 典型靈敏度偏移（sd） 2) | 3 x (10 –6 )•R_nt |
| 典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.1 mg+2.4 x (10 –6 )•R_gr |
| 典型穩定時間 | < 6 sec |
| 穩定時間 | < 10 sec |
1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年
* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。
梅特勒XS3DU分析天平描述:
| 標準配置 | 內置稱量應用程序 | ||||||||||||||
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梅特勒XS3DU分析天平特征和利益:
 世界領先的稱量性能: XS3DU微量天平具有高性能的稱量傳感器，提供稱量結果的至高重復性。 |
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| 電子天平網天平精度分類: | 1g/一克精度電子天平 | 0.1g/十分之一克電子天平 | 密度天平 |
| 0.01g/百分之一克電子天平 | 0.001g/1mg/千分之一克電子天平 | 0.1mg/萬分之一克電子天平 | 機械天平 |
| 0.01mg/十萬分之一克電子天平 | 0.001mg,1μg/百萬分之一克電子天平 | 靜水力學天平 扭力天平 | 工業臺稱 |
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杰出的用戶友好界面: TouchScreen觸摸屏，實現快速簡單的稱量操作。
連通性: 標配RS232接口，以第二接口選件插槽，可提供多種通訊接口選件，包括以太網、藍牙（無線連接）和PS/2等，進行有效的數據采集，便于網絡集成。
U形去靜電裝置（選件）: 消除稱量樣品和容器中積聚的靜電荷，確保稱量的準確性。
